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傍轴光线检测

2025-05-12 关键词:傍轴光线测试方法,傍轴光线测试仪器,傍轴光线测试标准 相关:
傍轴光线检测

傍轴光线检测摘要:傍轴光线检测是光学元件与系统质量控制的核心环节,重点评估光束传播特性及近轴区域的光学性能。关键检测参数包括光束发散角、波前畸变、光斑均匀性等指标,适用于激光器、光纤器件及精密光学组件的性能验证。本文依据ISO、ASTM及GB/T标准体系解析检测流程与技术要求。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.光束发散角测量:测量范围0.1-10mrad,精度0.05mrad(@632.8nm)

2.光斑直径分析:空间分辨率≤2μm(基于CCD成像系统)

3.波前畸变检测:PV值≤λ/10(λ=632.8nm),RMS≤λ/50

4.偏振态分布测试:消光比≥30dB(1550nm波段)

5.光强分布均匀性:中心区域不均匀性≤5%(直径80%范围内)

检测范围

1.光学透镜组:包括凸透镜、凹透镜及非球面透镜的近轴成像质量验证

2.激光器输出光束:半导体激光器/固体激光器的M因子测量

3.光纤耦合系统:单模/多模光纤端面出射光场特性分析

4.光学薄膜元件:高反膜/增透膜的偏振敏感性测试

5.激光加工设备:切割/焊接用激光束的焦斑位置稳定性监测

检测方法

ISO11146-1:2021激光束宽度、发散角和光束传播比的测试方法

ASTME284-22光学元件表面缺陷判读标准

GB/T13739-2019激光光束宽度、发散角测试方法

ISO10110-5:2015光学元件表面波前畸变公差规范

GB/T26184-2010光学系统杂散光测试方法

检测设备

ZYGOVerifire™MST干涉仪:波长632.8nm,波前测量精度λ/1000PV

ThorlabsBP209-IR/M光斑分析仪:分辨率19201200像素,光谱范围400-1700nm

OphirBeamGage-ULTRA:光强分布测量动态范围70dB@532nm

NewportLP-3旋转平台:角度定位精度0.005,负载能力5kg

HamamatsuC12880MA微型光谱仪:波长范围340-850nm,积分时间10ms-10s

KeysightN7788B偏振分析仪:波长范围1260-1640nm,消光比测量精度0.1dB

PrimesFocusMonitorFM:焦斑位置重复性0.5μm(@1064nm)

CoherentModeMasterUltra:M因子测量不确定度<3%(符合ISO标准)

LabsphereLMS-7600光辐射安全测试系统:符合IEC60825-1Class标准验证

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析傍轴光线检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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