傍轴光线检测
傍轴光线检测摘要：傍轴光线检测是光学材料与器件质量控制的核心环节，重点评估近轴区域的光学特性偏差。检测涵盖折射率均匀性、透射率梯度、轴向色散等关键参数，适用于激光晶体、光学玻璃等精密材料。检测过程需严格遵循ASTM、ISO及GB/T标准，采用干涉仪、分光光度计等高精度设备，确保数据精度达λ/20量级。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
折射率偏差：±0.005（@632.8nm）
透射率均匀性：≤0.5%（可见光波段）
轴向色散系数：Δn≤3×10⁻⁶/mm
傍轴畸变率：≤0.03λ（RMS值）
偏振特性偏差：消光比≥30dB
检测范围
光学玻璃：BK7、Fused Silica等，用于激光谐振腔组件
树脂镜片：CR-39、Trivex材质，用于高精度成像系统
激光晶体：Nd:YAG、YVO₄，应用于固体激光器
光学薄膜：AR/HR镀膜件，用于分光系统
光纤预制棒：GeO₂掺杂石英材料，用于光纤通信
检测方法
折射率检测：ASTM B794-06(2021)、GB/T 7962.1-2010
透射率测试：ISO 13697:2019、GB/T 26333-2010
波前畸变分析：ISO 10110-5:2015、GB/T 1800.3-2020
色散系数测定：ASTM E308-2022、GB/T 11161-2021
偏振特性检测：ISO 24157:2022、GB/T 26332.4-2015
检测设备
阿贝折射仪：Atago DR-M2，测量范围nD 1.300-1.700，精度±0.0002
分光光度计：Shimadzu UV-3600 Plus，光谱范围185-3300nm，分辨率0.1nm
激光干涉仪：Zygo Verifire MST，检测精度λ/20（@632.8nm）
椭偏仪：J.A. Woollam M-2000UI，入射角15-90°，波长范围245-1700nm
偏光分析系统：Thorlabs PAX1000，消光比测量范围0-60dB
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析傍轴光线检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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