碲汞矿检测摘要:碲汞矿检测是矿物资源开发与加工的关键环节,需通过专业化手段分析碲(Te)、汞(Hg)含量及伴生元素。核心检测项目涵盖成分分析、物相鉴定、粒度分布及有害物质检测,采用X射线荧光光谱(XRF)、电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)等技术,依据ISO、ASTM及GB/T标准确保数据准确性,适用于原矿、精矿及工业废料等多场景。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
碲(Te)含量测定:检测范围0.01%-30%,精度±0.005%
汞(Hg)含量测定:检测范围0.001%-15%,精度±0.0005%
杂质元素分析:包括Fe、Cu、Pb、Zn等,检测限0.001%-5%
物相结构鉴定:XRD半定量分析,分辨率≤0.02°(2θ)
粒度分布检测:D50范围0.1-500μm,重复性误差<3%
有害物质检测:As、Cd等重金属,检测限0.1-50ppm
碲汞矿原矿:检测主成分含量及伴生金属分布
精矿产品:验证Te/Hg品位及杂质控制水平
冶金中间品:熔炼渣、烟尘等物相与元素迁移分析
工业废料:尾矿、废水中的Hg残留监测
环境样本:土壤、沉积物的重金属污染评估
X射线荧光光谱法(XRF):ASTM D4294,GB/T 16597
电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS):ISO 17294,GB/T 3884.3
原子吸收光谱法(AAS):GB/T 17139,汞冷原子吸收法
X射线衍射法(XRD):ISO 20203,JCPDS卡片比对
激光粒度分析:ISO 13320,湿法分散技术
湿化学滴定法:GB/T 8152.3,碘量法测Te含量
Thermo Scientific Niton XL5 XRF分析仪:现场快速元素筛查,支持Hg/Te原位检测
Agilent 7900 ICP-MS:超痕量元素分析,检测限达ppt级
Rigaku SmartLab X射线衍射仪:高分辨率物相分析,配备PDF-4+数据库
Malvern Mastersizer 3000:干湿法粒度分析,量程0.01-3500μm
PerkinElmer PinAAcle 900T AAS:石墨炉与火焰联用,支持Hg冷蒸气模式
METTLER T5滴定仪:自动终点判定,精度±0.05mL
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
中析碲汞矿检测 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师