表面比较仪检测
表面比较仪检测摘要：表面比较仪检测是精密制造领域的关键质量控制手段，主要用于测量材料表面几何特征与形位公差。核心检测参数包括平面度、粗糙度、轮廓精度等，需依据ISO、ASTM及GB标准执行。本文系统阐述检测项目、材料适用性、方法标准及设备选型等技术规范。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
平面度误差检测：测量基准面与理想平面偏差，允许误差≤0.5μm
表面粗糙度分析：Ra值范围0.1-6.3μm，Rz值范围0.5-25μm
轮廓度偏差测量：三维轮廓精度±2μm/m
台阶高度检测：0.01-50mm量程，分辨率0.1μm
角度偏差测定：0-360°测量范围，精度±0.005°
检测范围
金属材料：铝合金、不锈钢、钛合金等加工件
光学元件：透镜、棱镜、反射镜等镀膜表面
电子元件：半导体晶圆、PCB板、接插件触点
塑料制品：注塑成型件、薄膜材料
陶瓷材料：结构陶瓷、功能陶瓷基板
检测方法
| 检测项目 | 国际标准 | 国家标准 |
|---|---|---|
| 平面度 | ISO 12781:2011 | GB/T 11337-2004 |
| 粗糙度 | ASTM D7127-17 | GB/T 1031-2009 |
| 轮廓度 | ISO 12180-2:2018 | GB/T 1958-2017 |
| 台阶高度 | ASME B46.1-2019 | GB/T 10610-2009 |
| 角度偏差 | ISO 4292:2016 | GB/T 11334-2018 |
检测设备
Talyrond 585圆度仪
径向测量精度0.01μm，配备多探针系统，支持ISO 1101标准
Mitutoyo SJ-410轮廓仪
最大检测长度150mm，Z轴分辨率0.01μm，符合JIS B0651规范
Bruker ContourGT-K光学轮廓仪
垂直分辨率0.1nm，支持ASTM E2847标准
Zeiss Surfcom Flex 50A
粗糙度测量范围Ra 0.01-50μm，符合GB/T 3505标准
Keyence VR-5000三维扫描仪
点距分辨率1μm，支持ISO 25178表面纹理标准
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析表面比较仪检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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