平面行波检测
平面行波检测摘要：平面行波检测是评估电磁波在介质或材料中传播特性的关键技术，广泛应用于高频电子器件、微波材料及通信设备的质量控制。本文系统阐述检测核心项目、适用材料范围、标准化方法及关键设备，重点关注传播参数、信号衰减、反射特性等核心指标，为工程验证与科研分析提供技术依据。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
传播速度：测量平面行波在介质中的相速（单位：m/s，精度±0.5%）
衰减系数：频率范围1MHz-40GHz，动态范围≥60dB
驻波比（VSWR）：测试频段覆盖0.5-18GHz，分辨率0.01
相位稳定性：温度范围-40℃~+85℃下的相位偏移量（±0.1°）
频率响应：扫频测试带宽100kHz-50GHz，步进精度1Hz
检测范围
微波介质基板：ROGERS RT/duroid系列、Taconic RF-35
金属复合材料：铝基覆铜板、钛合金波导结构件
高频电路板：PTFE基板、陶瓷填充聚合物基板
吸波材料：铁氧体片、碳基复合材料
天线罩材料：石英纤维增强复合材料、芳纶蜂窝夹层结构
检测方法
国际标准：
ASTM D5568-22：高频电路基板传播特性测试
ISO 11443:2020：电磁波传输介质衰减测量规范
IEC 61189-3-719:2021：微波材料介电性能测试
国家标准：
GB/T 17737.1-2018：同轴通信电缆电性能试验方法
GB/T 17626.10-2017：电磁兼容传导骚扰测量
GB 9254-2008：信息技术设备无线电骚扰限值
检测设备
矢量网络分析仪：Keysight N5222B（10MHz-26.5GHz，S参数测量）
微波信号源：Rohde & Schwarz SMA100B（频率范围8kHz-20GHz）
时域反射计：Tektronix DSA8300（采样率100GSa/s，上升时间15ps）
微波暗室：ETS-Lindgren Model 2080（频率范围30MHz-40GHz）
高温测试系统：Thermotron SM-32C（温控精度±0.5℃）
精密定位系统：NSI-MI 700S-20（位移精度±5μm）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
中析仪器 资质
中析平面行波检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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