配位多面体测试摘要:配位多面体测试是表征材料微观结构的重要分析手段,通过精确测定配位键长、键角及空间构型参数,为催化材料、功能配合物及纳米复合材料的研究提供关键数据支撑。检测涵盖晶体场参数、配位对称性、电子云分布等核心指标,采用国际标准化方法确保数据可比性,适用于金属有机框架、半导体材料等前沿领域。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
配位键长测定:分辨率±0.01Å,温度范围-196℃~600℃
配位键角分析:角度测量精度±0.1°,支持动态变温测试
晶体场分裂能计算:电子跃迁能量范围200-2500 nm
配位对称性判定:基于Oh/Td/D4h等对称群分类系统
电子密度拓扑分析:QTAIM理论建模,临界点定位误差<0.02 e·Å⁻³
金属有机框架材料(MOFs)
过渡金属配合物催化剂
稀土掺杂发光材料
半导体量子点材料
生物大分子金属配合物
X射线单晶衍射法:ASTM E1426-14(2020)标准,最小可测原子间距0.8Å
扩展X射线吸收精细结构(EXAFS):ISO 20884:2019规范,k空间分辨率3.5 Å⁻¹
拉曼光谱法:ISO 20310:2018标准,空间分辨率优于1μm
电子能量损失谱(EELS):ASTM E2862-18方法,能量分辨率0.3 eV
磁圆二色性谱(MCD):ISO 18115-4:2023规程,磁场强度0-7 T可调
Rigaku XtaLAB Synergy-S X射线衍射仪:配备HyPix-6000HE探测器,Mo靶Kα辐射(λ=0.71073Å)
JEOL JEM-2100F场发射透射电镜:配备Gatan量子成像滤波系统,点分辨率0.19 nm
Thermo Scientific K-Alpha XPS系统:单色Al Kα光源,结合能精度±0.05 eV
Bruker Vertex 80v傅里叶红外光谱仪:中红外范围4000-400 cm⁻¹,分辨率0.2 cm⁻¹
Oxford Instruments Spectromag系统:超导磁体提供0-12 T磁场,温度范围1.5-300 K
获CNAS(ISO/IEC 17025)和CMA双认证资质,检测数据国际互认
配备三级防震平台和恒温恒湿实验室(20±0.5℃, RH50±2%)
自主开发Polyhedron Analyzer Pro软件,符合ISO 9277:2010数据标准
技术团队含3名博士级材料表征专家,年均完成200+复杂体系分析案例
建立ASTM E55委员会标准方法验证数据库,涵盖3000+配位结构模型
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
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