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耦合损耗的定测试

2025-02-22 关键词:耦合损耗的定测试项目报价,耦合损耗的定测试测试标准,耦合损耗的定测试测试周期 相关:
耦合损耗的定测试

耦合损耗的定测试摘要:耦合损耗测定是评估光通信器件连接性能的关键技术指标,主要针对光纤连接器、适配器及光模块的插入损耗、回波损耗等参数进行定量分析。本文依据ASTM、ISO及GB/T系列标准,系统阐述检测项目、材料范围、测试方法及设备选型,重点涵盖温度循环、振动耐受性等动态环境下的损耗稳定性验证,为光通信系统可靠性评价提供技术依据。

参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

插入损耗测定:波长范围1260-1625nm,测试精度±0.1dB,涵盖FC/PC、LC/UPC等6种接口类型

回波损耗分析:测试阈值-60dB至-20dB,分辨率0.01dB,含端面三维形貌关联分析

温度循环损耗:-40℃至+85℃温变循环,温变速率5℃/min,记录100次循环后损耗偏移量

振动耐受性测试:频率10-2000Hz,加速度30g,三轴振动累计时长6小时

重复插拔稳定性:机械寿命≥500次,插拔力公差±0.5N,监测损耗波动标准差

检测范围

单模光纤连接器:G.652D/G.657系列,端面曲率半径4-20mm

多模光纤组件:OM3/OM5等级,芯径50/125μm、62.5/125μm

光纤适配器:陶瓷/金属复合结构,插损≤0.2dB

光模块组件:QSFP28、SFP+封装,速率10G-400G

特种光纤连接器:耐辐照型/深海应用型,工作温度-60℃~+150℃

检测方法

ASTM D4566-14:采用可调谐激光源与光功率计组合法,波长步进0.1nm,数据采样间隔10ms

ISO/IEC 61753-1:2018:规定温度-湿度复合试验条件(85℃/85%RH),持续168小时老化测试

GB/T 9771-2020:明确光纤连接器机械耐久性测试规程,插拔角度偏差≤1°

IEC 61300-3-4:2012:定义回波损耗测量需配合消光比≥55dB的偏振控制器

GB/T 18311.3-2018:振动测试采用XYZ三轴顺序加载法,单轴持续2小时

检测设备

EXFO FTB-500光时域反射仪:动态范围45dB,波长精度±5pm,支持双向平均损耗计算

Keysight N7774C可调谐激光源:波长范围1260-1630nm,输出功率稳定性±0.02dB

Viavi MTS-8000多参数测试平台:集成IL/RL/POL测试模块,采样率1MSa/s

ESPEC PL-3KPH温循箱:温度梯度控制±0.5℃,支持JEDEC JESD22-A104标准

IMV KZ-200D振动试验机:最大推力2000N,频率控制精度±1%,符合ISO 5344标准

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

中析仪器 资质

中析耦合损耗的定测试 - 由于篇幅有限,仅展示部分项目,如需咨询详细检测项目,请咨询在线工程师

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