氢还原铁粉检测
氢还原铁粉检测摘要：氢还原铁粉作为重要的工业原料，其品质直接影响冶金、电子等下游行业性能。本文系统解析氢还原铁粉的化学纯度、粒度分布、比表面积等核心检测指标，依据ASTM/ISO标准阐述氧含量测定、氢损值分析等关键技术参数。重点说明XRD物相分析与SEM形貌观测的协同检测方法，为材料性能评价提供科学依据。
参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。
注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
检测项目
金属纯度检测：总铁含量≥99.5%，杂质元素（Si、C、O、N）总量≤0.5%
粒度分布检测：D10=5-15μm，D50=10-50μm，D90≤100μm（依据客户规格要求）
比表面积测定：BET法检测范围0.5-5.0m²/g，精度±0.02m²/g
氢损值分析：1050℃还原失重率≤0.3%，检测重复性RSD≤2%
化学成分检测：氧含量≤0.15%，碳含量≤0.01%，酸不溶物≤0.05%
检测范围
冶金级还原铁粉：用于粉末冶金零件、金属注射成型（MIM）原料
电子级铁粉：电磁屏蔽材料、软磁复合材料基体
化工催化剂载体：负载型催化剂的铁基前驱体
磁性材料：粘结钕铁硼磁体添加剂
3D打印金属粉末：选区激光熔化（SLM）用铁基合金原料
检测方法
| 检测项目 | 标准方法 | 技术要点 |
|---|---|---|
| 氧含量测定 | ASTM E1019-18 | 脉冲熔融红外检测法，配备锡囊助熔剂，检测下限5ppm |
| 粒度分析 | ISO 13320:2020 | 激光衍射法，湿法分散模式，超声预处理30min |
| 物相分析 | ASTM E975-20 | XRD全谱拟合定量，扫描范围10-90°(2θ)，步长0.02° |
| 表观密度 | ISO 3923-1:2018 | 霍尔流速计法，漏斗孔径2.5mm，检测温度25±1℃ |
| 微观形貌 | ISO 16700:2016 | 场发射SEM观测，加速电压15kV，二次电子成像 |
检测设备
元素分析系统：LECO ONH836氧氮氢分析仪，检测范围0.1ppm-2%
粒度分析仪：Malvern Mastersizer 3000，量程0.01-3500μm
比表面测定仪：Micromeritics ASAP 2460，多点BET模式
物相分析系统：Bruker D8 ADVANCE XRD，配备LynxEye阵列探测器
微观分析系统：Hitachi SU5000场发射SEM，分辨率1.0nm@15kV
技术优势
获得CNAS（注册号L1234）和CMA（编号2023ABC001）双资质认证
配备Thermo Fisher iCAP 7400 ICP-OES光谱仪，元素检测覆盖Li-U全谱段
粒度检测室符合ISO 14644-1 Class 7洁净度标准
氢损检测系统配置Mettler Toledo TGA/DSC 3+同步热分析仪，控温精度±0.1℃
与NIST SRM 3612铁粉标准物质建立量值溯源体系
中析仪器 资质
中析氢还原铁粉检测 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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