弱反射涂层检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

反射率测定：波长380-780nm范围内反射率≤1.5%，入射角5°-60°可调

涂层厚度检测：纳米级分辨率（±2nm），检测范围50nm-5μm

附着力测试：划格法（ASTM D3359）0-5B等级判定，载荷0.75-10N可调

耐磨性能评估：Taber磨损测试（ISO 9352），500-5000转次质量损失≤0.02g

环境耐受性检测：湿热循环（40℃/95%RH）、盐雾（ASTM B117）、UV老化（ISO 4892-3）综合评估

检测范围

光学器件：相机镜头、激光镜片、光纤端面等镀膜产品

能源设备：太阳能集热板抗反射涂层、光伏玻璃表面处理层

交通工具：航空器舷窗减反射膜、汽车HUD显示面板涂层

建筑材料：Low-E玻璃功能膜层、幕墙自清洁涂层

电子元件：半导体晶圆防眩光涂层、OLED屏幕光学补偿膜

检测方法

反射光谱法：ASTM E903标准，采用积分球系统测量全波段反射特性

椭偏仪检测：ISO 14782规定，通过偏振光相位差解析膜层厚度与折射率

纳米压痕测试：ISO 14577-1标准，测定涂层弹性模量（范围0.1-500GPa）

扫描电镜分析：ASTM E1508规范，配合能谱仪（EDS）进行微观形貌与成分分析

接触角测量：ISO 27448标准，评估表面能变化（精度±0.1°）

检测设备

分光光度计：PerkinElmer Lambda 1050+，波长范围175-3300nm，分辨率0.05nm

膜厚测量系统：Filmetrics F20-UV，支持5nm-1mm厚度测量，重复精度±0.2%

多功能摩擦试验机：TRB³ Anton Paar，最大载荷50N，线性速度0.1-100mm/s可调

环境模拟箱：Weiss WK11-600，温控范围-70℃~+180℃，湿度控制10-98%RH

原子力显微镜：Bruker Dimension Icon，扫描范围90μm×90μm，Z轴分辨率0.1nm

技术优势

CNAS认可实验室：证书编号L1234，检测报告国际互认

CMA认证资质：覆盖GB/T 23989-2009等18项涂层检测标准

国际标准验证能力：通过ILAC国际比对试验，数据偏差率＜1.5%

专家团队支撑：5名高级工程师领衔，累计完成3000+涂层失效分析案例

设备溯源体系：所有计量仪器均通过NIM溯源，确保量值传递准确性

中析仪器 资质