球面抛光套管检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

表面粗糙度检测：采用非接触式白光干涉仪测量Ra值（≤0.05μm），Sa三维表面粗糙度参数≤0.08μm

球面圆度误差分析：三坐标测量机（CMM）检测球面轮廓偏差，允许最大圆度误差≤0.02mm

尺寸公差验证：内径公差±0.005mm，外径公差±0.008mm，同心度≤0.015mm

维氏硬度测试：载荷0.5kgf，检测范围HV0.5 200-900，压痕对角线测量精度±0.2μm

微观组织评价：金相显微镜观察晶粒度等级≥8级（ASTM E112），非金属夹杂物评级≤1.5级（ISO 4967）

检测范围

奥氏体不锈钢套管：316L/304材质，医疗及食品加工设备用

钛合金精密套管：Ti-6Al-4V ELI级，航空航天液压系统组件

氧化锆陶瓷套管：Y₂O₃稳定型，半导体制造传输部件

硬质合金复合套管：WC-Co基体，石油勘探钻具配件

高分子改性套管：PEEK-GF30增强材料，核工业耐辐射部件

检测方法

轮廓仪法：依据ISO 4287使用接触式探针测量表面波纹度，采样长度0.8mm，评定长度4mm

激光衍射法：按ASTM B822进行粒度分布检测，测量范围0.1-500μm，重复性误差＜1%

X射线荧光法：遵循ISO 3497测定镀层厚度，检测精度±0.05μm，元素分析范围Na-U

超声波探伤：执行ASME V Article 4标准，探头频率5MHz，缺陷检出灵敏度Φ0.4mm平底孔

热震试验：参照MIL-STD-883G方法1011，温度循环范围-196℃至300℃，循环次数≥50次

检测设备

Taylor Hobson PGI 3840表面轮廓仪：垂直分辨率0.1nm，最大扫描长度120mm

Mitutoyo Crysta-Apex S 三坐标测量机：空间精度(1.8+L/250)μm，探测误差≤0.5μm

Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：2θ角度范围0-160°，最小步长0.0001°

Instron 8862电子万能试验机：载荷范围±100kN，位移分辨率0.003μm

Zeiss Axio Imager.M2m金相显微镜：物镜NA值0.95，数码相机分辨率2580×1944像素

技术优势

CNAS认可实验室（注册号L1234）：通过ISO/IEC 17025体系认证，检测报告国际互认

标准物质溯源体系：NIST标样覆盖率100%，设备校准周期≤3个月

跨学科检测团队：12名高级工程师平均从业年限15年，含3名ASNT III级人员

数字化管理系统：检测数据自动采集，原始记录存储周期≥10年

特殊环境模拟能力：具备-269℃液氦温区至1200℃高温检测条件

中析仪器 资质