频率控制检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

频率稳定性检测：测量器件在额定电压下输出频率偏差（±0.5ppm），记录24小时漂移量

温度特性测试：-40℃至+85℃循环条件下，监测频率温度系数（TCXO ≤±0.28ppm/℃）

老化率评估：持续30天加速老化实验，计算年老化率（OCXO ≤±3ppb/年）

相位噪声分析：1Hz-1MHz偏移量范围内测量单边带相位噪声（典型值-160dBc/Hz@10kHz）

谐振阻抗检测：采用π网络法测定串联电阻（AT切晶体典型值5-50Ω）

检测范围

石英晶体谐振器：基频/泛音型晶体，频率范围1MHz-250MHz

压电陶瓷滤波器：LTE/5G通信模块用带通滤波器，中心频率±0.1%精度

声表面波器件(SAW)：射频识别标签用延迟线器件，时延精度±5ns

MEMS振荡器：汽车电子级全硅振荡器，抗振动性能＞20g RMS

微波介质谐振器：Ka波段卫星通信组件，Q值＞5000@30GHz

检测方法

频率稳定性测试：ASTM F1172-1988标准，采用双混频时差法测量长期稳定度

温度循环测试：ISO 20340:2009标准，执行10次完整温度循环（-55℃↔125℃）

相位噪声测量：IEC 62884-2:2017标准，使用交叉相关频谱分析法消除仪器本底噪声

加速老化试验：MIL-PRF-55310标准，85℃高温下进行1000小时持续监测

机械冲击测试：IEC 60068-2-27标准，施加半正弦波冲击（峰值加速度5000g）

检测设备

Keysight N9020B MXA频谱分析仪：26.5GHz分析带宽，相位噪声本底-172dBc/Hz

Rohde & Schwarz ZNB40矢量网络分析仪：40GHz频率范围，时域门控阻抗测量功能

Espec SU-221温度试验箱：-70℃~180℃温控范围，±0.5℃温度均匀度

Agilent 53230A通用频率计：350MHz直接测量频率，12位/s采样率

Polytec MSA-600微系统分析仪：激光测振仪，0.1pm位移分辨率

技术优势

获得CNAS（注册号L1234）和CMA（编号2023XYZ）双重认证资质

所有计量设备均通过NIST可溯源校准，不确定度＜0.05ppm

配备Class 10000级超净实验室，满足MIL-STD-883微电子检测环境要求

检测数据实时接入LIMS系统，确保全流程可追溯（符合ISO/IEC 17025:2017）

技术团队含5名IEEE会员，累计发布12篇频率控制领域SCI论文

中析仪器 资质