氧化铝物料检测摘要:北京中科光析科学技术研究所可进行各种氧化铝物料晶相组成、晶体结构分析、化学式分析、元素分布的分析测试服务,依据的氧化铝物料检测标准如: GB/T 6609.2-2022等。检测周期:常规到样后7-15个工作日出具氧化铝物料检测报告。
参考周期:常规试验7-15工作日,加急试验5个工作日。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。
中析研究所可依据相应氧化铝物料检测标准进行分析测试服务,亦可根据客户需求设计方案,为客户提供非标检测服务。氧化铝物料检测费用:样品初检后结合客户检测需求以及实验复杂程度进行报价,样品量大小:具体样品量需要根据客户的检测项目来决定,详情您可以咨询工程师。
1. 成分分析:氧化铝含量、杂质元素含量、晶相组成、晶体结构分析、化学式分析、元素分布、表面组分分析、比表面积、孔隙度、密度测定等。
2. 物理性能:硬度测试、弯曲强度测试、抗压强度测试、断裂韧性测试、热膨胀系数、热导率、电阻率、介电常数、磁性测试、光学透明性测试等。
氧化铝物料检测样品一般包括:
1. 粉末:微细氧化铝粉末、纳米氧化铝粉末、无定型氧化铝粉末、高纯度氧化铝粉末、表面改性氧化铝粉末、多孔氧化铝粉末、涂层氧化铝粉末、球形氧化铝粉末、陶瓷级氧化铝粉末、工业级氧化铝粉末等。
2. 薄片/膜:单晶氧化铝薄片、多晶氧化铝薄片、薄膜涂层氧化铝、陶瓷涂层氧化铝膜、柔性氧化铝薄膜、多孔氧化铝膜、纳米氧化铝薄膜、硬质氧化铝薄膜、透明氧化铝薄膜、高温氧化铝薄膜等。
氧化铝物料检测涉及的仪器设备包括:
X射线衍射仪(XRD):用于分析和确定氧化铝物料的晶体结构和相组成。这种仪器可以提供物料的衍射图谱,并确定物料的晶体结构和晶相含量。
扫描电子显微镜(SEM):用于观察和表征氧化铝物料的形貌和微观结构。这种仪器可以提供高分辨率的物料表面形貌图像,并评估物料的颗粒形状、大小和分布情况。
能谱仪(EDS):与扫描电子显微镜配套使用,用于分析氧化铝物料的元素组成。这种仪器可以提供物料样品中元素的能谱图谱,评估元素的含量和分布情况。
红外光谱仪(FTIR):用于分析氧化铝物料的化学成分和摩尔结构。这种仪器可以提供物料的红外光谱图谱,并确定物料的化学键和官能团。
比表面积测定仪:用于评估氧化铝物料的比表面积和孔隙性。这种仪器可以测量物料样品表面的比表面积,并评估物料的孔隙性和吸附性能。
热重分析仪(TGA):用于研究氧化铝物料的热稳定性和热分解行为。这种仪器可以测量物料样品在不同温度下的质量变化,并评估物料的热性能。
粒度分析仪:用于测量氧化铝物料的粒度分布和颗粒大小。这种仪器可以测定物料样品中颗粒的平均粒径、粒径分布和颗粒形状。
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