光电器件检测

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

　　中析研究所可依据相应光电器件检测标准进行分析测试服务，亦可根据客户需求设计方案，为客户提供非标检测服务。光电器件检测费用：样品初检后结合客户检测需求以及实验复杂程度进行报价，样品量大小：具体样品量需要根据客户的检测项目来决定，详情您可以咨询工程师。

光电器件检测项目

　　光电性能测试：光电响应、光电转换效率、光谱特性、光强度、光功率、光衰减、光束发散角、光偏振状态、光收发效率等。

　　电气特性测试：电流-电压特性、电阻值、电容值、电感值、电压饱和值、电流泄漏、电源稳定性、电压降、电流保护等。

　　结构参数测试：尺寸精度、平整度、表面粗糙度、光学轴偏差、材料透明度、组装精度、耐压性能、机械强度、散热性能等。

　　光学特性测试：透射率、反射率、吸收率、散射率、色温、颜色均匀性、波长准确度、波长稳定性、相位差、光栅分辨力等。

　　环境适应性测试：温度适应性、湿度适应性、振动适应性、冲击适应性、辐射适应性、高低压适应性、腐蚀适应性、防水性能、防尘性能等。

试验范围

　　光电器件检测样品一般包括：

　　光敏元件：光电二极管、光电晶体管、光电倍增管、光电阻、光电导、光电集成电路等。

　　光源器件：激光器、LED、发光二极管、光电缆、红外线发射器、光通信器件等。

　　光机电器件：光电编码器、光电开关、光电传感器、光电控制器、光电显示器等。

　　光学器件：透镜、棱镜、衍射光栅、偏振片、滤光片、反射镜等。

　　光电子元件：光电池、光电子阀、光电子管、光电晶体、光电IC等。

相关仪器

　　光电器件检测涉及的仪器设备包括：

　　光源和光谱分析仪：用于提供标准化的光源，并测量光电器件的光谱特性，包括波长、光强等参数。

　　光功率计：用于测量光电器件输出的光功率。这种仪器可以用于评估光电器件的光电转换效率和输出功率的稳定性。

　　光学显微镜：用于观察光电器件的外观和器件结构。显微镜可以提供器件的放大度和清晰度，用于检测器件是否存在缺陷或损坏。

　　电流电压源：用于提供准确的电流和电压输入，以测试和驱动光电器件。这种设备可以用于测量器件的电流-电压特性曲线，以评估器件的工作性能。

　　光电流检测仪：用于测量光电器件产生的光电流。这种仪器可以用于评估光电器件的敏感度、响应时间和暗电流等参数。

相关标准

　　ASTM E1143-2005(2010) 测定有关试验参数的光电器件参数线性的试验方法

　　BS EN 60904-1-2006 光电器件.第1部分:光电池电流.电压性能的测定

　　BS EN 60904-2-2007 光电器件.第2部分:基准太阳能电池的要求

　　BS EN 60904-5-1996 光电器件.第5部分:用开路电压法对光伏装置的等效电池温度的测定

　　BS EN 60904-7-2009 光电器件.光电器件的试验中波谱失调错误传输计算

　　BS EN 60904-8-1998 光电器件.光电器件波谱反应的测量

　　BS EN 60904-10-2010 光电器件.线性度测量方法

　　BS EN 61727-1996 光电器件(PV)系统-通用接口的特性

　　BS EN 62007-1-2009 光纤系统用半导体光电器件.基本额定值及特性

　　BS EN 62007-2-2009 光纤系统用半导体光电器件.测量方法

　　CEI EN 60747-5-2-2002 分立半导体器件和集成电路。第5-2部分:光电器件。基本额定值和特性

　　CEI EN 62007-1-2010 光纤系统应用的半导体光电器件.第1部分:基本额定值和特性的规范模板

　　CEI EN 62007-2-2010 光纤系统应用的半导体光电器件.第2部分:测量方法

　　DIN EN 60747-5-1-2003 分立半导体器件和集成电路 第5-1部分:光电器件 通则

　　DIN EN 60747-5-2-2003 分立半导体器件和集成电路 第5-2部分:光电器件 基本参数和性能

　　DIN EN 60747-5-3-2003 分立半导体器件和集成电路 第5-3部分:光电器件 测量方法

　　DIN EN 60904-5-1996 光电器件.第5部分:用开路电压方法对光电器件等效电池温度的测定

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