芯片安全安全性分析

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

1.物理结构完整性：封装完整性，表面缺陷，焊点状态，引脚形貌，层间结构，内部裂纹

2.电气特性分析：工作电压，静态电流，动态电流，输入输出电平，时序特性，功耗表现

3.功能安全验证：启动功能，复位功能，异常响应，容错能力，故障检测，保护机制

4.信息保护能力：数据存储保护，访问控制，密钥存储安全，调试接口管控，权限隔离，非法读取防护

5.接口防护性能：通信接口稳定性，输入输出防护，异常信号响应，接口隔离能力，数据传输完整性，指令交互安全

6.环境适应性：高温运行，低温运行，温度循环，湿热影响，振动影响，机械冲击影响

7.抗干扰能力：电源扰动响应，信号干扰响应，静电承受能力，瞬态冲击响应，噪声敏感性，恢复能力

8.可靠性评估：寿命表现，老化特征，参数漂移，长期稳定性，失效率分析，批次一致性

9.失效分析：开路失效，短路失效，漏电异常，功能失常，热损伤特征，材料劣化特征

10.存储安全性：程序区保护，数据区保护，擦写稳定性，掉电保持能力，非法修改防护，存储一致性

11.启动与固件安全：上电启动校验，固件完整性检查，异常加载防护，更新过程控制，启动链保护，版本一致性验证

12.侧信号风险分析：功耗变化特征，电磁泄露特征，时序差异特征，异常响应规律，敏感操作暴露风险，信息关联风险

检测范围

微控制芯片、存储芯片、逻辑芯片、模拟芯片、数字芯片、通信芯片、电源管理芯片、安全控制芯片、加密芯片、身份识别芯片、射频芯片、传感器芯片、接口控制芯片、车载芯片、工业控制芯片、消费电子芯片、智能终端芯片、嵌入式处理芯片

检测设备

1.参数分析仪：用于测量芯片电流、电压、漏电及输入输出特性；可支持多工作状态下的参数评估。

2.数字示波仪：用于观察时钟、波形、时序和瞬态变化；可辅助分析信号异常与启动过程特征。

3.逻辑分析仪：用于采集和解析数字接口信号；可用于总线通信过程与控制时序核查。

4.频谱分析仪：用于检测芯片工作过程中的频率分布与杂散信号；可辅助分析电磁相关特征。

5.高低温试验箱：用于模拟不同温度环境下的运行状态；可评估芯片环境适应性与参数稳定性。

6.静电测试装置：用于评估芯片对静电冲击的承受能力；可观察受扰后的功能保持与恢复情况。

7.失效分析显微设备：用于观察封装表面、引脚状态及局部缺陷；可辅助定位裂纹、烧蚀和结构异常。

8.程控电源：用于提供稳定或扰动可控的供电条件；可用于启动测试、功耗测试和电源波动响应分析。

9.信号发生装置：用于输入时钟、脉冲及通信激励信号；可模拟不同工作条件下的接口响应。

10.数据采集系统：用于同步记录电气参数、温度变化及运行状态；可支持长期稳定性监测与异常追踪。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质