光纤线接口温度适应性试验

参考周期：常规试验7-15工作日，加急试验5个工作日。

注意：因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外)。

检测项目

温度循环测试：

• 温度范围：-40°C～+85°C（参照IEC60068-2-14）
• 循环次数：500cycles（TelcordiaGR-468）
• 升降速率：1°C/min（GB/T2423.22）

高温存储测试：

• 温度：+85°C（IEC60068-2-2）
• 持续时间：1000hours（GR-326-CORE）
• 光损耗变化：≤0.3dB（IEC61300-3-4）

低温存储测试：

• 温度：-40°C（IEC60068-2-1）
• 持续时间：1000hours
• 绝缘电阻：≥1000MΩ（GB/T1408.1）

热冲击测试：

• 温度转换：-40°Cto+85°Cin<1min（MIL-STD-883）
• 循环次数：100cycles
• 失效判据：光学对准偏差≤5μm（GR-326-CORE）

湿度影响测试：

• 条件：85°C/85%RH（IEC60068-2-78）
• 持续时间：500hours
• 腐蚀检查：无可见锈蚀或退化（GB/T10125）

机械性能变化测试：

• 插拔力：变化≤20%（IEC61300-3-34）
• 保持力：≥15N（GR-326-CORE）
• 弯曲半径：最小弯曲半径测试（IEC61300-2-4）

光学性能测试：

• 插入损耗：≤0.25dB（TelcordiaGR-326）
• 回波损耗：≥55dB（IEC61300-3-6）
• 偏振相关损耗：≤0.1dB（IEC61280-4-1）

电气性能测试：

• 绝缘电阻：≥1000MΩ（GB/T1408.1）
• 耐电压：500VDCfor1min（IEC61300-2-42）
• 接触电阻：≤10mΩ（GB/T5095.2）

耐久性测试：

• 插拔寿命：≥500cycles（IEC61300-2-1）
• 磨损分析：表面粗糙度变化≤0.1μm（ISO4287）
• 疲劳强度：循环载荷≥50N（ASTME466）

环境适应性综合测试：

• 复合环境：温度+湿度+振动（IEC60068-2-53）
• 参数监控：实时数据采集频率1Hz（GB/T2423.10）
• 失效分析：微观结构检查（ISO643）

检测范围

1.SC型光纤接口：涵盖标准陶瓷插芯接口，重点检测温度循环引起的热变形和光学对准偏移。

2.LC型光纤接口：针对小型化设计，侧重评估低温脆化对插拔机械强度的衰减影响。

3.ST型光纤接口：金属外壳类接口，检测焦点为导热不均匀导致的腐蚀防护失效风险。

4.MTP/MPO多芯连接器：多光纤通道接口，验证温度漂移对光学一致性和插芯阵列稳定性的影响。

5.陶瓷插芯接口：核心材料类，着重测试热膨胀系数（CTE）匹配性在极端温度下的变化。

6.塑料外壳接口：高分子材料接口，评估高温软化与低温脆化对密封性能的退化。

7.单模光纤接口：单通道传输接口，重点监控波长相关损耗在温度波动中的稳定性。

8.多模光纤接口：高带宽传输接口，检测温度极端化对带宽性能的衰减程度。

9.户外用加固接口：防护增强型接口，强化测试防水密封和UV抵抗在温度循环中的耐久性。

10.室内用标准接口：常规应用接口，侧重插拔便利性和长期可靠性在温度波动下的表现。

检测方法

国际标准：

• IEC61300-2-22Fiberopticinterconnectingdevices-Tests-Changeoftemperature
• TelcordiaGR-326-COREGenericRequirementsforSinglemodeOpticalConnectors
• IEC60068-2-14Environmentaltesting-TestN:Changeoftemperature
• ISO9022-2Environmentaltestmethods-Part2:Tests-Coldanddryheat
• MIL-STD-883TestMethodJianCeforMicrocircuits-Method1011ThermalShock

国家标准：

• GB/T2423.22-2012Environmentaltestingforproducts-TestN:Changeoftemperature
• GB/T18310.49-2015Fiberopticdevices-Testmethods-Changeoftemperature
• GB/T2423.3-2016Environmentaltesting-TestCab:Dampheat,steadystate
• GB/T1408.1-2016Insulationresistancetestmethod
• GB/T2423.10-2019Environmentaltesting-TestFc:Vibration

方法差异说明：GB/T标准规定更严格的温度升降速率（平均1°C/minvsIEC的3°C/min），且循环次数上限较高；Telcordia标准额外要求电信级光学参数监控，而GB/T侧重基础环境适应性；ISO与MIL-STD在热冲击转换时间定义上存在±10s偏差。

检测设备

1.温度循环试验箱：ESPECTCV-3.0（温度范围-70°Cto+180°C，精度±0.5°C）

2.恒温恒湿箱：KSONKTH-150（湿度范围10%to98%RH，温度范围-40°Cto+150°C）

3.热冲击试验箱：THERMOTRONTS-780（温度转换时间<10s，范围-65°Cto+175°C）

4.光纤功率计：EXFOFPM-300（波长范围800-1700nm，精度±0.02dB）

5.光时域反射仪：YOKOGAWAAQ7275（动态范围45dB，分辨率0.01m）

6.插拔力测试仪：IMADAZPS-RX（量程0-50N，精度±0.1%）

7.绝缘电阻测试仪：HIOKIIR4056（测试电压50-1000VDC，精度±3%）

8.金相显微镜：OLYMPUSBX53M（放大倍数50x-1000x，数码成像）

9.环境模拟舱：WEISSWK11-180（复合控制，振动频率5-2000Hz）

10.数据采集系统：KEITHLEYDAQ6510（16通道，采样率1MS/s）

11.温湿度记录仪：OMEGAOM-EL-USB-2（范围-40°Cto+85°C，USB输出）

12.光谱分析仪：ANRJianCeUMS9740A（波长600-1750nm，分辨率0.01nm）

13.拉力试验机：SHIMADZUAGS-X（最大载荷10kN，精度±0.5%）

14.表面粗糙度仪：MITUTOYOSJ-410（测量范围350μm，分辨率0.01μm）

15.振动台：LDSV875（推力2000N，频率5-3000Hz）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

中析仪器资质