法向发射率
2020-04-14 14:42:50
关键词：法向发射率,法向发射率检测
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法向发射率摘要：北京中科光析科学技术研究所法向发射率检测标准：ASTM E307-1972(2014)等，可进行金属、塑料、涂层、玻璃、陶瓷、石材、电池、光学材料等各种样品的法向发射率检测服务。检测周期：常规到样后7-15个工作日出具试验报告。
中析提供加急服务：常规项目5个工作日
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因业务调整，部分个人测试暂不接受委托，望见谅。
中析研究所可依据相应法向发射率检测标准通过光谱分析等方法进行分析测试服务，亦可根据客户需求设计方案，为客户提供非标检测服务。法向发射率检测费用：样品初检后结合客户检测需求以及实验复杂程度进行报价，样品量大小：具体样品量需要根据客户的检测项目来决定，详情您可以咨询工程师。
试验范围
法向发射率检测样品一般包括：
建筑材料：玻璃、陶瓷、塑料、金属材料、涂层材料、纤维材料、木材等。
光学元件：透镜、棱镜、滤光片、反射镜、分光器、衍射光栅等。
热隔离材料：隔热膜、隔热涂层、保温材料、隔热板等。
薄膜材料：金属薄膜、氧化物薄膜、聚合物薄膜、陶瓷薄膜、生物薄膜等。
涂层材料：防腐涂层、耐磨涂层、隔热涂层、阻燃涂层、导热涂层、光学涂层等。
电子元件：半导体器件、电路板、LED芯片、显示屏等。
相关标准
ASTM E307-1972(2014) 高温下法向光谱发射率试验方法
ASTM E423-1971(2014) 不导电试样升温时法向光谱发射率试验方法
GB/T 18497.2-2019 工业加热用电红外发射器的特性 第2部分:中长波电红外发射器
中析报告注意事项
· 报告无服务方签字人签名无效(签名应均为同一人);
· 未加盖“北京中科光析科学技术研究所”科研测试专用章无效;
· 报告复印、私自转让、盗用、冒用、涂改、以及其他任何形式篡改均属无效;
· 委托方需保证样品来源信息的真实性;
· 报告真伪：可扫防伪码查询，或可在中析研究所官方网站“报告查询”入口搜索报告编号进行查询;
· 24小时保持通讯，报告有任何疑问，请致电咨询。
中析仪器 资质
中析法向发射率 - 由于篇幅有限，仅展示部分项目，如需咨询详细检测项目，请咨询在线工程师
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